80%

Analýza systematických vad skenování ploch s nenulovou křivostí

978-80-01-04319-6
978-80-01-04319-6
Autor:
Podtitul:Habilitační přednáška
Jazyk (původní knihy):Jazyk vydání čeština čeština
Zkuste koupit knihu na KOSMAS.czPřidat komentářPřidat recenziPřidat odkazPřidat obálkuPřidat inzerát na knihu do bazaru
HodnoceníUživatelVydáníČas hodnocení