80%

Analýza systematických vad skenování ploch s nenulovou křivostí

978-80-01-04319-6
978-80-01-04319-6
Autor:
Podtitul:Habilitační přednáška
Jazyk (původní knihy):Jazyk vydání čeština čeština
Zkuste koupit knihu na KOSMAS.czPřidat komentářPřidat recenziPřidat odkazPřidat obálkuPřidat inzerát na knihu do bazaru
978-80-01-04319-6
978-80-01-04319-6
Nakladatel:Česká technika – nakladatelství ČVUT
ISBN:978-80-01-04319-6
EAN:9788001043196
Termín:
Pořadí vydání:1.
Jazyk:Jazyk vydání čeština čeština
Rozsah (počet stran):20
Vazba:měkké desky, lepená brožura oříznutá po třech stranách
Materiál:kniha

Anotace

3D skenovací systémy jsou významnou součástí přístrojů a postupů využívaných v praxi. Při testování vlastností ortogonálního prokládání na reálných datech byly zjištěny proměnné systematické odchylky při proložení body koulí nebo válcem a to jak v poloměru, tak i v poloze středu (osy). Jev byl zaznamenán u měření laserových skenovacích systémů na principu prostorové polární metody, jako příklad pro vyčíslení velikosti vlivu lze uvést příklad koule o poloměru 35 mm, kde byl poloměr určen s chybou 2 mm nebo válce o poloměru 100 mm, s chybou 5 mm. Ze simulací jevu vyplývá, že využití koulí o neznámém malém poloměru jako vlícovacích bodů pro skenovací systémy s uvedenou přesností není vhodné, protože dochází nejen k chybnému určení poloměru, ale také k chybnému určení souřadnic středu koule.

Žánr a kategorie knihy Analýza systematických vad skenování ploch s nenulovou křivostí

Učebnice » Učebnice pro vysoké školy